Institut des
NanoSciences de Paris
insp
Accueil > Evénements > Séminaires > Archives 2015 > La diffraction cohérente
insp
2.jpg

Séminaire « Propriétés opto/électroniques » de l’INSP

La diffraction cohérente des rayons X : une sonde de choix pour l’étude des défauts de phase en matière condensée - Vincent Jacques - Mardi 20 janvier 2015 à 11 h

INSP - 4 place Jussieu - 75252 PARIS Cedex 05 - Barre 22-23 - 3e étage, salle 317

Vincent Jacques - Laboratoire de Physique des Solides (Orsay)

Résumé

source-échantillon) ont notamment permis d’atteindre des degrés de cohérence de la centaine de micromètres pour des faisceaux X de 5keV à 10keV, permettant de faire interférer des domaines déphasées dans les cristaux distants de plusieurs micromètres. Ces domaines se rencontrent par exemple de part et d’autre de défauts cristallins comme les dislocations. Dans cet exposé, je présenterai des résultats obtenus par diffraction de rayons X cohérents dans des semiconducteurs (Si et InSb) contenant des défauts de structure, intrinsèquement présents ou induits in-situ par déformation mécanique. Je présenterai par ailleurs comment la même technique peut être utilisée pour sonder des cristaux électroniques, présentant des ondes de densité de charge et/ou des ondes de densité de spin, et permet d’étudier leur déformation sous l’influence d’une contrainte extérieure comme un champ électrique. Enfin, les grands instruments de dernière génération génèrent des faisceaux de rayons X naturellement cohérents, ayant une structure temporelle intrinsèque sous forme d’impulsions de quelques femto-secondes. Ceci offre la possibilité de réaliser des expériences de diffraction cohérente des rayons X résolues en temps à l’échelle sub-picoseconde, et donc de sonder la dynamique hors-équilibre ultra-rapide de systèmes électroniques après impulsion laser, tout en conservant les informations sur la phase des objets étudiés.